LCP-25 Elipsomètr eksperimantal
Entwodiksyon
Manyèl polarimètr eliptik la itilize metòd disparisyon pou mezire epesè ak endèks refraktif nan fim nan, epi manyèlman kontwole devyasyon ak ang devyasyon pwosesis tès la. Ellipsometry se lajman ki itilize nan mezi a nan Dielectric fim mens sou substra solid. Nan metòd pou mezire epesè nan fim nan, li ka mezire nan presizyon ki pi fin ak pi wo a.
Espesifikasyon
| Deskripsyon | Espesifikasyon |
| Epesè Mezi Range | 1 nm ~ 300 nm |
| Ranje Ang Ensidan an | 30º ~ 90º, Erè ≤ 0.1º |
| Polarizeur & Analizè entèseksyon Ang | 0º ~ 180º |
| Disk Echèl angilè | 2º pou chak echèl |
| Min. Lekti Vernier | 0.05º |
| Wotè sant optik | 152 mm |
| Dyamèt Etap Travay | Φ 50 mm |
| Dimansyon jeneral | 730x230x290 mm |
| Pwa | Apeprè 20 kg |
Lis Pati
| Deskripsyon | Kantite |
| Inite Ellipsometer | 1 |
| He-Ne lazè | 1 |
| Foto anplifikatè | 1 |
| Foto selil | 1 |
| Silica Film sou Silisyòm Substrate | 1 |
| Analiz lojisyèl CD | 1 |
| Manyèl Enstriksyon | 1 |
Ekri mesaj ou isit la epi voye li ban nou
